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  • JX-40M 金相顯微鏡 硅片檢測顯微鏡 材料檢測 電極檢測
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產(chǎn)品名稱: JX-40M 金相顯微鏡 硅片檢測顯微鏡 材料檢測 電極檢測

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光學(xué)系統(tǒng)無限遠色差校正光學(xué)系統(tǒng)
觀察筒30°傾斜,無限遠鉸鏈雙目觀察筒,瞳距調(diào)節(jié):54mm~75mm,單邊視度調(diào)節(jié):±5屈光度(選配)30°傾斜,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調(diào)節(jié):54mm~75mm,單邊視度調(diào)節(jié):±5屈光度,兩檔分光比R:T=100:0或50:50
目鏡高眼點大視野平場目鏡PL10X22mm高眼點大視野平場目鏡PL10X22mm(帶測微尺)(選配)高眼點大視野平場目鏡PL10X22mm(視度可調(diào))(選配)高眼點大視野平場目鏡PL15X16mm(選配)
物鏡平場無限遠長工作距消色差金相物鏡(5x、10x、20x、50x)100x  (選配)
物鏡轉(zhuǎn)換器內(nèi)定位五孔轉(zhuǎn)換器
粗微調(diào)焦機構(gòu)透反兩用機架,低手位粗微同軸調(diào)焦機構(gòu),粗調(diào)行程28mm,微調(diào)精度0.002mm。帶有防止下滑的調(diào)節(jié)松緊裝置和隨機上限位裝置。帶平臺位置上下調(diào)節(jié)機構(gòu),樣品高度28mm 反射機架,低手位粗微同軸調(diào)焦機構(gòu),粗調(diào)行程28mm,微調(diào)精度0.002mm。帶有防止下滑的調(diào)節(jié)松緊裝置和隨機上限位裝置。帶平臺位置上下調(diào)節(jié)機構(gòu),z大樣品高度78mm
載物臺雙層機械移動平臺,低手位X、Y方向同軸調(diào)節(jié);平臺面積175X145mm,移動范圍:76mmX42mm可配反射用金屬載物臺板,透反兩用玻璃載物臺板
上照明系統(tǒng)自適應(yīng)寬電壓100V-240V_AC50/60Hz,反射燈室,單顆大功率5WLED,暖色,柯拉照明,帶視場光闌與孔徑光闌,中心可調(diào),帶斜照明裝置
下照明系統(tǒng)自適應(yīng)寬電壓100V-240V_AC50/60Hz,透射燈室,單顆大功率5WLED,暖色
聚光鏡透射用搖出式消色差聚光鏡(N.A0.9),帶可變孔徑光闌,中心可調(diào)
其他附件透射用濾色片:黃色、IF550濾色片、LBD濾色片、中性濾色片(選配)攝影攝像附件:1X、0.67X、0.5X C接口,可調(diào)焦(選配)反射用干涉濾色片:藍色<=480nm            綠色520nm~570nm            紅色630~750nm(選配)            LBD(選配)高精度測微尺,格值0.01mm(選配)

 


產(chǎn)品詳情:

■JX-40M作為改良型金相顯微鏡,整合了我們銷量機型JX-4R及研發(fā)的JX-50M研究級金相顯微鏡的多項技術(shù)優(yōu)勢,并根據(jù)市場需求重新優(yōu)化配置整體性能。

■JX-40M以良好的成像性能、舒適的操作體驗,為客戶提供高性價比的金相分析及工業(yè)檢測解決方案。

■新改良的LMPlan系列長工作距金相物鏡,提升色差校正水平,同時調(diào)整膜系設(shè)計,進一步提升圖像分辨率與色彩還原性。

■采用新生兒睡床舒適角度(30°)的觀察筒,能夠緩解用戶在長時間工作狀態(tài)下的緊張與疲勞,保證很好的觀察狀態(tài)。觀察筒上的刻度,方便用戶自行調(diào)節(jié)瞳距范圍。

■落射照明器采用LED柯拉照明系統(tǒng),帶視場光闌、孔徑光闌和斜照明裝置;預(yù)設(shè)起偏鏡、檢偏鏡與濾色片插槽。

■單顆5W LED 暖白光照明(3000-3300K),與同類LED照明相比,能降低觀察者的視覺疲勞。

■視場光闌與孔徑光闌拉桿裝置,中心可調(diào), 能靈活調(diào)節(jié)照明范圍的大小,有效避免雜光對圖像的影響。

■起偏鏡與檢偏鏡可實現(xiàn)簡易偏光觀察,您也可根據(jù)需求,選擇不同顏色的濾色片獲得理想的觀察效果。

■透反射機架可放置樣品高達28mm,反射機架通過旋轉(zhuǎn)右圖相同位置螺釘,可將載物臺下降50mm,從而使z大樣品高度可達78mm。

■M4直柄內(nèi)六角扳手隨機存放,充分利用了機身的可用空間,觸手可及的工具使您的操作更加便捷。

■隨機限位裝置,可有效防止樣品與物鏡碰觸,避免損傷。

■采用JX-50M優(yōu)秀的聚光系統(tǒng),數(shù)值孔徑更大,亮度更高,大幅提升透射光通過率。

■JX-40M可提供明場、斜照明、簡易偏光等多種觀察功能,明場圖像高亮度、高分辨率、正色還原;斜照明能凸顯直觀立體浮雕效果。


服務(wù):
JX-40M 金相顯微鏡 硅片檢測顯微鏡 材料檢測 電極檢測
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